1.3.3 Элементы оболочки

 

1.3.3.1 Понятие оболочки. Теория тонкой оболочки

 

ОПРЕДЕЛЕНИЕ

 

Оболочкой будем называть двумерный элемент с произвольной геометрией  его поверхности, который в общем случае может воспринимать действие 6-и силовых факторов:  вектора сил  и вектора моментов сил .

Здесь  введена  глобальная  система координат  (г.с.к.), в которой описывается произвольная оболочка. Рассмотрим теорию тонкой оболочки, толщина  которой много меньше характерного размера  оболочки   в двух других направлениях [6,8]. На рис. 1.3.3.1 изображена оболочка в системе координат .

Рис. 1.3.3.1

Рассмотрим сначала вопрос описания геометрии произвольной тонкой недеформированной оболочки [6]. Как и в п. 1.3.2.1, где рассматривалась теория тонкой пластины, введем понятие нейтральной поверхности. Нейтральная поверхность характеризуется тем, что она равноудалена от "верхней" и "нижней" поверхностей оболочки и на ней отсутствуют изгибные деформации (хотя мембранные деформации, конечно, в общем случае есть). Поэтому для описания геометрии оболочки достаточно описать нейтральную поверхность.

Так как положение произвольной точки  поверхности можно задать с помощью двух параметров, то мы будем считать заданным параметрический закон описания геометрии нейтральной поверхности:

                           (1.3.3.1.1)

Будем называть  - линией кривую на нейтральной поверхности с постоянным значением параметра , а  - линией - кривую с постоянным значением . Два семейства кривых образуют на поверхности координатную сетку (рис. 1.3.3.1). Поэтому параметры  можно назвать криволинейными координатами поверхности.

Бесконечно малый отрезок  - линии,  который обозначим через , связан с дифференциалом  соотношением:

                         (1.3.3.1.2)

где:

Аналогично определяется дифференциал :

                         (1.3.3.1.3)

где:

Рассмотрим далее на поверхности произвольную точку  и введем единичный вектор , касательный к  - линии в этой точке. Его компоненты в г.с.к.  представим матрицей:

               (1.3.3.1.4)

где:

Заметим, что:  как и должно быть для суммы квадратов компонент единичного вектора.

Аналогично введем единичный вектор , касательный к  - линии в т. . Его компоненты представим матрицей:

              (1.3.3.1.5)

где:

При этом:

Скалярное произведение  будем обозначать через ;

в матричном представлении:                                      (1.3.3.1.6)

Из рисунка 1.3.3.1 ясно, что: , где:  - угол между   и . В случае ортогональности  и  - линий в т. : .

Построим теперь в произвольной точке  поверхности локальный ортогональный репер :

Для каждого единичного вектора  построим матрицу его компонент в г.с.к. :

Выберем , тогда:

                              (1.3.3.1.7)

Вектор  перпендикулярен к  и лежит в плоскости, касательной к поверхности оболочки в т. М. Если потребовать, чтобы , то вектор  определится однозначно:

(1.3.3.1.8)

Дифференциалы:         (1.3.3.1.9)

Чтобы репер  образовал правую систему координат, потребуем, чтобы  был равен векторному произведению:  откуда следует что:

                                                    (1.3.3.1.10)

Ясно, что вектор  является нормальным к поверхности оболочки в т. : .

Перейдем теперь к вопросу о деформации произвольной тонкой оболочки. Пусть в результате деформации оболочки точки нейтральной поверхности получили перемещения, описывающиеся полем вектора . Все перемещения точек оболочки  будем считать малыми . В произвольной точке  нейтральной поверхности единичный вектор  задает ось , нормальную к поверхности в этой точке. В пределах оболочки  меняется в пределах:

Так как перемещения точек оболочки малы по сравнению с толщиной оболочки , то как и в п. 1.3.2.1 при рассмотрении теории тонкой пластины, мы можем разложить поле вектора перемещений  в произвольной точке  (удаленной от т.  по направлению вектора  на ) в ряд Тейлора по координате , оставив только члены, независимые и линейные от .

Считая справедливой гипотезу малых перемещений (см. п. 1.3.2.1), можно определить поле  по полю  и вектору углов поворота  вектора нормали  к осям г.с.к. . Введем также вектор углов поворота  вектора нормали  вокруг осей г.с.к. , связанный с  формулами:

                                                    (1.3.3.1.11)

На рис. 1.3.3.2 изображены  вектора  и . Вектор нормали  поворачивается вокруг направления, задаваемого вектором , на угол

 

Рис. 1.3.3.2

 

Изменение вектора  определяется по формуле:

                         (1.3.3.1.12)

Поэтому дополнительное смещение точки , удаленной от точки на  вдоль , равно: . В результате мы можем записать следующее выражение для поля вектора перемещений  точек оболочки:

(1.3.3.1.13)

Так как вектор нормали  определяется геометрией поверхности оболочки, то можно сделать вывод, что поле перемещений точек оболочки  однозначно определяется полем перемещений точек нейтральной поверхности (мембранная составляющая перемещений) и полем вектора углов поворота  вектора нормали  вокруг осей  г.с.к. , определяющим изгибную составляющую  перемещений. Как и в случае мембраны, поле  мембранной составляющей перемещений не зависит от , а изгибная составляющая перемещений линейно зависит от .

Для тонкой оболочки должна быть справедлива гипотеза  Кирхгоффа (см. п. 1.3.2.1), которая в криволинейных координатах имеет вид:

                                                    (1.3.3.1.14)

Вектор  деформации оболочки  удобно определять в локальной системе координат точки , задаваемой репером . Компоненты [6]:

(1.3.3.1.15)

где:  берется из формулы (1.3.3.1.13).

Последние две компоненты  и  представляют собой деформацию попереч­ного сдвига. Как и для пластины (см. п. 1.3.2.2), деформацию поперечного сдвига можно считать постоянной по толщине пластины:

                                                    (1.3.3.1.16)

Пользуясь формулой (1.3.3.1.11) для связи  и , можно упростить, например, выражение :

Поэтому формулы (1.3.3.1.16) принимают вид:

                                                    (1.3.3.1.17)

В соответствии с формулами Кирхгоффа (1.3.3.1.14) для тонкой оболочки получим из (1.3.3.1.17):

                    (1.3.3.1.18)

то есть деформации поперечного сдвига для тонкой оболочки равны нулю. Поэтому остается трехкомпонентный вектор деформаций тонкой оболочки , содержащий две составляющие - изгибную и  мембранную:

                           (1.3.3.1.19)

где:  - мембранная составляющая деформации тонкой оболочки ;

 - изгибная составляющая деформации тонкой оболочки.

Можно показать, что вектор  представим в виде [6]:

           (1.3.3.1.20)

где:                                                     (1.3.3.1.21)

                                                    (1.3.3.1.22)

Заметим, что из (1.3.3.1.11) следует векторное равенство: . Поэтому формулу (1.3.3.1.13) можно привести к виду

      (1.3.3.1.23)

аналогичному формулам (1.3.2.1.1) и (1.3.2.1.2) для пластины.

Векторное произведение  можно представить в матричном виде:

                    (1.3.3.1.24)

где:                                                     (1.3.3.1.25)

Тогда с помощью (1.3.3.1.20) - (1.3.3.1.22) получим  следующую формулу:

                                                    (1.3.3.1.26)

где:

Учитывая (1.3.3.1.23) для , получим:

           (1.3.3.1.27)

где:

Таким образом, вектор деформации  представим в виде:

                       (1.3.3.1.28)

где вектора  и  не зависят от переменной .

Так как и мембранные, и изгибные деформации описываются плоским напряженным состоянием (см. п. 1.3.1.1 и п. 1.3.2.1), то  связь между вектором деформации   вектором напряжений  выражается формулой:

   (1.3.3.1.29)

где:

 - матрица упругости плоского напряженного состояния.

Поэтому полная энергия деформации тонкой оболочки  равна:

       (1.3.3.1.30)

где:  - введенная выше матрица упругости для плоского напряженного сос­тоя­ния.

Интегрирование в (1.3.3.1.30) ведется по всему объему оболочки. Подставив в формулу (1.3.3.1.30) выражение (1.3.3.1.28) для вектора деформаций , получим:

Элементарный объем  представим в виде: ,

где:  - элемент поверхности оболочки. Тогда вследствие разделения интегриро­вания по  и по поверхности оболочки можно сразу провести интегрирование по . Учитывая равенства:

получим выражение для :

                                                    (1.3.3.1.31)

Таким образом, полная энергия деформации тонкой оболочки равна сумме энергий мембранной и изгибной деформаций:

                        (1.3.3.1.32)

где: - энергия мембранных деформаций;

 - мембранная жесткость оболочки;

 - энергия изгибных деформаций;

 - изгибная жесткость оболочки.

С учетом (1.3.3.1.9) элемент площади  равен:

                                                    (1.3.3.1.33)

поэтому выражения для энергий деформаций принимают вид:

                                                    (1.3.3.1.34)

где интегрирование ведется по криволинейным координатам .

Изложенная теория тонкой оболочки будет дальше использована для построения различных типов элементов тонкой оболочки. При  этом мы  снова  будем требовать выполнение условия совместности для элементов.

 

* * *

 

Для толстой оболочки условия Кирхгоффа (1.3.3.1.14) не выполняются, поэтому деформации поперечного сдвига  не равны нулю и определяются с помощью формул (1.3.3.1.17). Используя соотношения между компонентами векторов углов поворота ,

можно представить вектор  в следующем виде:

     (1.3.3.1.35)

где:

Полная энергия деформации толстой оболочки  будет равна сумме:

                 (1.3.3.1.36)

где энергия мембранных деформаций  и энергия изгибных деформаций  определяются по формулам (1.3.3.1.34), а энергия деформаций  поперечного сдвига  равна:

                                                    (1.3.3.1.37)